取消
清空記錄
歷史記錄
清空記錄
歷史記錄
瀏覽器自帶分享功能也很好用哦~用途:白光干涉儀是一種新型的表面形貌測量設備，主要用于獲得材料表面的粗糙度、波紋度、翹曲度、自相關函數、承載曲線、輪廓線提取等三維特征參數。以及對材料表面形貌的三維測量，包括:水平尺寸、高度、面積、體積、缺陷深度、曲率半徑、傾斜角、柵線分析等。
型號:ContourX-100、ContourX-200、ContourX-500、Contour GT等
基本參數:
●垂直測量范圍:0.1 nm 至 10 mm
●垂直分辨率:<0.1 nm
●水平分辨率:0.5 um
●XY樣品臺尺寸:150 mm (6in.)
●樣品臺移動范圍:150 mm (XY軸)/100 mm(Z軸)
●物鏡:2.5X、5X、10X、20X、50x、115x
技術優勢:
●專利設計LED雙光源設計(白光、綠光)
●PSI、VSI、USI測試模式，滿足絕大部分樣品測試需求
●獨有的圖像拼接功能
●多種縫合模式
●獨具一格的鏡頭調整水平設計
●TTM鏡頭:直接透過透明介質測量介質下面的產品形貌
在線客服
客服一
用途:白光干涉儀是一種新型的表面形貌測量設備，主要用于獲得材料表面的粗糙度、波紋度、翹曲度、自相關函數、承載曲線、輪廓線提取等三維特征參數。以及對材料表面形貌的三維測量，包括:水平尺寸、高度、面積、體積、缺陷深度、曲率半徑、傾斜角、柵線分析等。
型號:ContourX-100、ContourX-200、ContourX-500、Contour GT等
基本參數:
●垂直測量范圍:0.1 nm 至 10 mm
●垂直分辨率:<0.1 nm
●水平分辨率:0.5 um
●XY樣品臺尺寸:150 mm (6in.)
●樣品臺移動范圍:150 mm (XY軸)/100 mm(Z軸)
●物鏡:2.5X、5X、10X、20X、50x、115x
技術優勢:
●專利設計LED雙光源設計(白光、綠光)
●PSI、VSI、USI測試模式，滿足絕大部分樣品測試需求
●獨有的圖像拼接功能
●多種縫合模式
●獨具一格的鏡頭調整水平設計
●TTM鏡頭:直接透過透明介質測量介質下面的產品形貌
用途:白光干涉儀是一種新型的表面形貌測量設備，主要用于獲得材料表面的粗糙度、波紋度、翹曲度、自相關函數、承載曲線、輪廓線提取等三維特征參數。以及對材料表面形貌的三維測量，包括:水平尺寸、高度、面積、體積、缺陷深度、曲率半徑、傾斜角、柵線分析等。
型號:ContourX-100、ContourX-200、ContourX-500、Contour GT等
基本參數:
●垂直測量范圍:0.1 nm 至 10 mm
●垂直分辨率:<0.1 nm
●水平分辨率:0.5 um
●XY樣品臺尺寸:150 mm (6in.)
●樣品臺移動范圍:150 mm (XY軸)/100 mm(Z軸)
●物鏡:2.5X、5X、10X、20X、50x、115x
技術優勢:
●專利設計LED雙光源設計(白光、綠光)
●PSI、VSI、USI測試模式，滿足絕大部分樣品測試需求
●獨有的圖像拼接功能
●多種縫合模式
●獨具一格的鏡頭調整水平設計
●TTM鏡頭:直接透過透明介質測量介質下面的產品形貌
用途:白光干涉儀是一種新型的表面形貌測量設備，主要用于獲得材料表面的粗糙度、波紋度、翹曲度、自相關函數、承載曲線、輪廓線提取等三維特征參數。以及對材料表面形貌的三維測量，包括:水平尺寸、高度、面積、體積、缺陷深度、曲率半徑、傾斜角、柵線分析等。
型號:ContourX-100、ContourX-200、ContourX-500、Contour GT等
基本參數:
●垂直測量范圍:0.1 nm 至 10 mm
●垂直分辨率:<0.1 nm
●水平分辨率:0.5 um
●XY樣品臺尺寸:150 mm (6in.)
●樣品臺移動范圍:150 mm (XY軸)/100 mm(Z軸)
●物鏡:2.5X、5X、10X、20X、50x、115x
技術優勢:
●專利設計LED雙光源設計(白光、綠光)
●PSI、VSI、USI測試模式，滿足絕大部分樣品測試需求
●獨有的圖像拼接功能
●多種縫合模式
●獨具一格的鏡頭調整水平設計
●TTM鏡頭:直接透過透明介質測量介質下面的產品形貌
